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Etude des Multicouches Zn/Te/Zn... Déposées par Pulvérisation Cathodique Radiofréquence

Les structures étudiées sont formées d’une alternance de couches de zinc (Zn) et de Tellure (Te) déposées par Pulvérisation Cathodique radiofréquence (PCRF). Les spectres de diffraction des rayons X rasants (GIXD) ont révélé la formation du ZnTe et l’existence du zinc libre pour les échantillons bruts. La présence du tellure libre n’est pas confirmé pour ces échantillons ceci est du à l’état amorphe des couches de tellure. Des mesures similaires sur des échantillons recuits à 300 °C pendant 2 heures montrent une amélioration de la cristallinité du ZnTe accompagnée par l’apparition d`oxydes en surface quand le temps du recuit est 8 heures. L’analyse par microsonde électronique montre que les couches de ZnTe obtenues sont stoïchiométriques, elles deviennent légèrement déficitaires en tellure quand le temps de recuit est de 8 heures. Les mesures de la résistivité électrique montrent que la conductivité est analysée en termes de conduction par saut (Variable Range Hopping, modèle de Mott) pour les basses températures. Les mesures de transmittance de l’ultraviolet au proche infrarouge montrent une absorption de type métallique pour les structures brutes, celles recuites à 300 °C présentent un bord d’absorption avec une énergie de la bande interdite de 2.26 eV.


 
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